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海向快速溫變試驗(yàn)箱 性能測試箱半導(dǎo)體

產(chǎn)品簡介

該設(shè)備適用于學(xué)校,工廠,軍工,科研單位,實(shí)驗(yàn)室、高校等單位,來檢測各種電子元?dú)饧诟邷兀蜏鼗蚋叩蜏亟惶姝h(huán)境下的各項(xiàng)性能指標(biāo)、貯存和使用的適應(yīng)性。
(海向快速溫變試驗(yàn)箱 性能測試箱半導(dǎo)體)

產(chǎn)品型號(hào):KB-50
更新時(shí)間:2024-12-04
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問量:776
詳細(xì)介紹在線留言
品牌海向儀器價(jià)格區(qū)間1萬-2萬
產(chǎn)地類別國產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域化工,電子,航天,汽車,綜合
內(nèi)膽尺寸360*350*400mm?(寬*深*高)溫度范圍-40℃~150℃
降溫速度6℃/min電源電壓220V/50HZ

一、產(chǎn)品概述:

該設(shè)備適用于學(xué)校,工廠,軍工,科研單位,實(shí)驗(yàn)室、高校等單位,來檢測各種電子元?dú)饧诟邷?,低溫或高低溫交替環(huán)境下的各項(xiàng)性能指標(biāo)、貯存和使用的適應(yīng)性。

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二、技術(shù)參數(shù):

型號(hào)/名稱

KB-50快溫變試驗(yàn)箱

內(nèi)膽尺寸

360*350*400mm (**)

溫度范圍

40℃150℃

溫度波動(dòng)度

±0.5℃

溫度均勻度

±1℃

降溫速度

6/min

電源電壓

220V/50HZ

 

海向快速溫變試驗(yàn)箱 性能測試箱半導(dǎo)體

三、箱體結(jié)構(gòu):

l  箱體造型美觀大方,采用數(shù)控機(jī)床加工成型,并采用無反作用把手,操作簡便。

l  箱體內(nèi)膽采用高級(jí)不銹鋼(SUS304)鏡面板,箱體采用冷軋鋼板靜電噴塑,增加了外觀質(zhì)感和潔凈度。

l  大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮,且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃,隨時(shí)清晰的觀測箱內(nèi)狀況。箱體左側(cè)配有測試孔,可供外接測試電源線或信號(hào)線使用。(孔徑或孔數(shù)須增加定貨時(shí)說明)。機(jī)器底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動(dòng)輪。

 

四、控制系統(tǒng):

l  7寸可程式彩色觸摸控制器。

l  采用大屏觸摸屏模式熒幕畫面、熒幕操作簡單、程式編輯容易。

l  控器操作界面設(shè)中英文可供選擇、即使運(yùn)轉(zhuǎn)曲線圖可由屏幕顯示。

l  具有100組程式1000999循環(huán)步驟的容量、每段時(shí)間設(shè)定值為99小時(shí)59分鐘。

l  資料及試驗(yàn)條件輸入后、控制器具有熒屏鎖定功能、避免人為觸摸而停機(jī)。

l  具有PID自動(dòng)演算功能、可將溫度變化條件立即修正、使溫度控制更為精確穩(wěn)定。

l  具有RS-232RS-485通訊界面、可在電腦上設(shè)計(jì)程式、監(jiān)控試驗(yàn)過程并執(zhí)行開關(guān)機(jī)功能。

l  可連接打印機(jī)或485通訊接口、用電腦顯示、并打印溫度和時(shí)間曲線、為試驗(yàn)過程數(shù)據(jù)儲(chǔ)存于回放提供有力保證。

 

五、制冷系統(tǒng):

l  制冷機(jī)采用法國原裝“泰康"全封閉壓縮機(jī)。

l  冷凍系統(tǒng)采用單機(jī)低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。

l  采用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán),避免任何死角,可使測試區(qū)域內(nèi)溫濕度分布均勻。

l  風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì),風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測試標(biāo)準(zhǔn),并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時(shí)間快。

l  升溫、降溫獨(dú)立可提高效率,降低測試成本,增長壽命,減低故障率。

 

六、符合標(biāo)準(zhǔn):

l  GB-2423.1-89IEC68-2-1)試驗(yàn) A:低溫試驗(yàn)方法。

l  GB-2423.2-89IEC68-2-2)試驗(yàn) B:高溫試驗(yàn)方法。

l  GJB360.8-87MIL-STD-202F)高溫壽命試驗(yàn)。

l  GBJ150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法。

l  GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法。

l  GB/T 2423.2-2008 試驗(yàn) B《高溫試驗(yàn)方法》

l  GB10586-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

l  GB/T10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

l  GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

l  GB11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

l  GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) A:低溫試驗(yàn)方法

l  GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) A:高溫試驗(yàn)方法

l  IEC60068-2-1.1990 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

l  IEC60068-2-2.1974 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

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